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Probecards Advanced Wafer Testing | |||||
Probecards: Testing vom Single Chip zum 300mm Full-Wafer-Test. | |||||
Seit 1994 bieten wir ein breites Engineering- und Fertigungs-Spektrum für Probecards in jedem Analyse- und Testbereich: Cantilever Universal und spezifische Probecards sowie Direct Attach Technologien für den Full Wafer Test gehören zu unserem Kernportfolio. |
Team Engineering auf den Punkt
gebracht. Jede Lösung wird in kurzen Entwicklungszyklen zügig weiterentwickelt und in Teamarbeit so weit verfeinert bis das Ziel erreicht ist: Die möglichst einfache und sichere Lösung. Trotz differierender Maßstäbe der verschiedenen Tests bleiben die Anforderungskriterien für das Zusammenspiel Probehead und Probecard homogen: Gleiche Leitungslängen, kontrollierte Impedanz bei vorgegebener Toleranz und der Einsatz geeigneter Miniaturisierungs-Technologien (u.a. MicroVIAS, BlindVIAS, MultiPressing). |