Probecards – Advanced Wafer Testing    
      Probecards: Testing vom Single Chip zum 300mm Full-Wafer-Test.  

Seit 1994 bieten wir ein breites Engineering- und Fertigungs-Spektrum für Probecards in jedem Analyse- und Testbereich: Cantilever Universal und spezifische Probecards sowie Direct Attach Technologien für den Full Wafer Test gehören zu unserem Kernportfolio.

Team Engineering auf den Punkt gebracht.
Wann immer bestehende Standard Probecards nicht allen Anforderungen des Kunden gerecht werden, realisiert unser Engineering Team das Erforderliche um selbst komplexeste Testszenarien zeitnah abzusichern. Als Grundlage dient die Erfahrung aus einer einzigartigen Vielfalt erfolgreich umgesetzter Projekte, flankiert von effizienten Design-Toolsets und einer parallelisierten Entwicklungsumgebung (TeamPCB).

Vom Layout zur Produktion: Alle Details und das Ganze im Blick.
Jede Lösung wird in kurzen Entwicklungszyklen zügig weiterentwickelt und in Teamarbeit so weit verfeinert bis das Ziel erreicht ist: Die möglichst einfache und sichere Lösung. Trotz differierender Maßstäbe der verschiedenen Tests bleiben die Anforderungskriterien für das Zusammenspiel Probehead und Probecard homogen: Gleiche Leitungslängen, kontrollierte Impedanz bei vorgegebener Toleranz und der Einsatz geeigneter Miniaturisierungs-Technologien (u.a. MicroVIAS, BlindVIAS, MultiPressing).